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ELECTRICAL TEST
GB/T 17626 的本部门给出了利用各类 TEM 波导进行电子和电气设备发射和抗扰度试验的步骤。 TEM波导有盛开式(例如,带状线和电磁脉冲(EMP)仿照器)和封关式(例如,TEM 室),还能够进一步分为单端口 、双端口和多端口波导。TEM 波导的合用频率领域取决于县体的试验需要和 TEM 波导的具体类型。
本部门的主张是给出∶
-TEM 波导的机能,蕴含典型的频率领域和对 EUT尺寸的限度;
-用于电磁兼容(EMC)试验的 TEM 波导简直认步骤;
-EUT(即 EUT壳体和衔接电缆)的界说;
-在 TEM 波导中进行辐射发射试验的试验安插、步骤和要求;
-在 TEM 波导中进行辐射抗扰度试验的试验安插、步骤和要求。
注∶本部门划定的试验步骤用于丈量所关切设备的电磁辐射抗扰度和辐射发射。电磁辐射的仿照和丈量了局对于
定量确定最终装置使用状态下的电磁效应是不够正确的,划定试验步骤的重要主张是保障定性分析电磁效应使用的分歧试验设备所得试验了局的沉复性。
本部门的主张不是划定合用于肆意特定产品或系统的试验步骤,而是为所有感兴致的产品委员会提件通用的基造性参考。对干较射发射试验,产品委员会应参考国际无线由于扰出格委 员全(CISPR)
尺度'选择发射限值和试验步骤。对于辐射抗扰度试验,由产品委员会掌管对其管辖领域内的设备选择相宜的试验步骤和抗扰度限值。本部门描述的试验步骤独立于 GB/T 17626.32)。